一、 主要特點
(1)、可對F(9)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析;
(2)、6款管濾光片,更快更的測定微量及痕量元素;
(3)、可配置硅漂移探測器SDD (分辨率為129eV),適于高和低原子序數的元素分析檢測;
(4)、外型堅固耐用,適于移動實驗室,符合沖擊試驗MIL810E規(guī)格;
(5)、配備集成電腦、專業(yè)nEXt™分析軟件,操作方便;
二、主要技術參數
系統(tǒng)規(guī)格 |
PD 版本 |
SDD 版本 |
測量范圍 |
Na(11) - Fm(100) |
F(9) - Fm(100) |
測量濃度 |
ppm -100% |
次 ppm -100% |
X-射線管靶材 |
Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) |
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X-射線管電壓/功率 |
35 kV, 9W |
40 kV, 18 W |
激發(fā)類型 |
直接激發(fā),管濾光片 |
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探測器 |
電制冷PIN二極管 |
硅漂移探測器SDD |
分辨率(FWHM) |
155 eV ± 10 eV |
129 eV ± 5eV |
自動進樣器 |
8位 |
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工作環(huán)境 |
空氣/真空/氦氣 |
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管濾光片 |
6款軟件可選 |
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操作軟件 |
nEXt™分析包(包含基礎基本參數法),Microsoft Windows™ OS操作系統(tǒng)。 |
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報告 |
用戶自定義數據打印輸出 |
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選配件 |
16位自動進樣器、專業(yè)基本參數法、氦氣凈化器、CCD攝像頭等 |
三、應用領域
石油化工、冶金/合金樣品
環(huán)境、石油/燃料/柴油等、醫(yī)藥生物化學等
礦產地質(含稀土元素)、貴金屬檢測、法鑒
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