上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司

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主營(yíng):超聲波探傷儀,超聲波測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀,金屬電導(dǎo)率儀,鐵素體檢測(cè)儀,便攜式硬度計(jì),usm35超聲波探傷儀,sitescan250s

鋁道網(wǎng)  >  鋁設(shè)備 >  鋁箔生產(chǎn)線(xiàn)  > 測(cè)厚儀  > 鋁表面氧化膜測(cè)厚儀minitest1100

鋁表面氧化膜測(cè)厚儀minitest1100

價(jià)格

18000 元/套

  • 單價(jià):電議
  • 最小起訂量: 1
  • 所在地:上海 上海
  • 供貨總量: 10
  • 發(fā)布時(shí)間:2016-11-30

聯(lián)系方式

產(chǎn)品描述

  • MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
  • 所有型號(hào)均可配所有探頭;
  • 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
  • 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。  

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

-

-

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

-

其他功能

設(shè)置極限值

-

-

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別小值

-

-

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值

-

-

MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)

  所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
  N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
  FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端分辨率

誤差

小曲率半徑

小測(cè)量區(qū)域直徑

小基體厚度

探頭尺寸
(mm)



應(yīng)

F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70


FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62




N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

無(wú)限制

φ17x80

注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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