MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
型號 |
1100
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2100
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3100
|
4100
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MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 |
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) |
1
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1
|
10
|
99
|
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設寬容度極限值) |
-
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1
|
10
|
99
|
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) |
-
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1
|
500
|
500
|
數(shù)據(jù)總量 |
1
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10000
|
10000
|
10000
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MINITEST統(tǒng)計計算功能 |
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar |
-
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√
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√
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√
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讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
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-
|
√
|
√
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組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
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存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
-
|
-
|
-
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√
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分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 |
-
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-
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√
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√
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顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
-
|
√
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√
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√
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其他功能 |
透過涂層進行校準(CTC) |
-
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√
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√
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√
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在粗糙表面上作平均零校準 |
√
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√
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√
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√
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利用計算機進行基礎校準 |
√
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√
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√
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√
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補償一個常數(shù)(Offset) |
-
|
-
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√
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√
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外設的讀值傳輸存儲功能 |
-
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√
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√
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√
|
保護并鎖定校準設置 |
√
|
√
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√
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√
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更換電池是存儲數(shù)值 |
√
|
√
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√
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√
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設置極限值 |
-
|
-
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√
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√
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公英制轉換 |
√
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√
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√
|
√
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連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
-
|
-
|
√
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√
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浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 |
√
|
√
|
√
|
√
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組內(nèi)單值延遲顯示 |
-
|
√
|
√
|
√
|
連續(xù)測量模式中顯示小值 |
√
|
√
|
√
|
√
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可選探頭參數(shù)(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
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量程
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低端 分辨率
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誤差
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小曲率 半徑(凸/凹)
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小測量 區(qū)域直徑
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小基 體厚度
|
探頭尺寸
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磁 感 應 法
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F05
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0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
兩 用
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FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm N50μm
|
φ15x62mm
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm N50μm
|
φ21x89mm
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm N50μm
|
φ15x62mm
|
電 渦 流 法
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
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200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
CN02
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10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
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無限制
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φ17x80mm
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注: |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
探頭圖示
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FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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|
FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
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F05 0~500μm,φ3mm 磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|
|
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層
|
|
F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F10 0~10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20 0~20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50 0~50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
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N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
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N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
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N100 0~100mm,200mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
|
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CN02 10~200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板 |
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