產品描述
CSK-IB(或CSK-1B、 CSK-ZB)
這3個型號是同一試塊，在JB/T8428-2006第6頁有說明
兩個試塊的主要區(qū)別在于：CSK-IA只有K值刻度,CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。使用要點如下：
1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；
2)利用厚度25mm和高度100mm調整縱波探測范圍；
3)利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點；
4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力；
6)利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區(qū)和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5橫孔測定斜探頭的K值；
8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當于橫波50mm)調節(jié)橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。
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- 上海如慶電子科技有限公司
- 經營模式：制造商
- 主營：超聲波探傷儀,磁粉探傷儀,黑光燈/紫外燈,測厚儀,測溫儀,著色探傷劑,硬度計,反差增強劑/黑油磁懸液
- 地區(qū)：上海 上海
